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ICT测试方案
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ICT测试方案
  • A:为各种类型及复杂元件提供全面务
  • B: 提供客户要求的各种方案
  • C: 模型开发
  • D: Boundary Scan的所有方面
    --BSDL
    --Boundary Scan链
    --Silicon Nails测试
  • E:静态及动态元件的程式-FLASH.EPROM CPLD.PIC.Real Time Clock
  • F:开关式电源的创意方案
  • G: 植针率有限之产品高覆盖率方案
  • H: 以ICT为基准的功能测试方案
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